Dhyana 9KTDI Pro
Dhyana 9KTDI Pro(简称:D 9KTDI Pro)背照式TDI 相机基于先进的sCMOS 背照式减薄和TDI 时间积分技术,采用可靠稳定的制冷封装技术,覆盖从180 nm 紫外到1100 nm 近红外宽光谱,有效提升紫外TDI线扫、弱光扫描检测能力,旨在为半导体晶圆缺陷检测、半导体材料缺陷检测、基因测序等应用提供更高效率、更稳定的检测支持。
Dhyana 9KTDI Pro 采用背照式 sCMOS 技术,已验证的响应波段可覆盖180 nm - 1100 nm区域。256级 TDI技术可以大幅提升紫外(193nm/266nm/355nm等波段)、可见光、近红外等弱光成像信噪比,提高设备检测精度。
Dhyana 9KTDI Pro 配备CoaxPress-Over-Fiber 2 x QSFP+ 高速接口,其传输效率相当于背照式 CCD-TDI 相机的54倍,显著提升设备的检测效率。Dhyana 9KTDI Pro的相机行频最高可达 9K @ 600 kHz,为行业提供快速的多级TDI线扫描解决方案。
高端挑战性检测应用中,对缺陷的检测要求非常高,即使是1~2DN的灰阶抖动都会影响检测结果。鑫图的制冷技术经过市场的长期验证,不仅能够对感光芯片实行精准的低温控制,还能使相机在长时间工作中保持±0.5℃恒定状态。如图所示,鑫图相机制冷后具有更均一的成像背景和更低的噪声水平,可以为高精度缺陷检测提供更精准可靠的数据支撑。